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Variable Name: SPV_SimulateDiagCode_1
Variable ID: 0x43B8
Variable Label: Simul.even.diagn
Variable Help: Selezione un evento della diagnostica per simulare questo evento
Variable Handling: R/W
Variable Class: Device
Variable Size: 4
Variable DataType: Enum
Variable Enum Value | Variable Enum Text |
---|---|
0x80EC | Disattivo/a |
0x1530000 | 043 Corto circuito sensore |
0xE70000 | 082 Conservazione dei dati |
0xA00000 | 083 Contenuto della memoria elettronica |
0x38A0000 | 169 Misura della conducibilità fallita |
0x2D80000 | 170 Resistenza bobina |
0xD50000 | 180 Sensore temperatura difettoso |
0x11C0000 | 181 Connessione del sensore |
0x14B0000 | 201 Guasto strumento |
0x670000 | 242 Software non compatibile |
0x6B0000 | 252 Moduli incompatibili |
0x1490000 | 262 Collegamento elettronica sensore guasto |
0x780000 | 270 Guasto dell'elettronica principale |
0x7D0000 | 271 Guasto dell'elettronica principale |
0x790000 | 272 Guasto dell'elettronica principale |
0x980000 | 273 Guasto dell'elettronica principale |
0x7A0000 | 275 Modulo I/O 1 difettoso |
0x7A0001 | 275 Modulo I/O 2 difettoso |
0x7A0002 | 275 Modulo I/O 3 difettoso |
0x7B0000 | 276 Modulo I/O 1 guasto |
0x7B0001 | 276 Modulo I/O 2 guasto |
0x7B0002 | 276 Modulo I/O 3 guasto |
0xE10000 | 283 Contenuto della memoria elettronica |
0x1EE0000 | 302 Verifica strumento attiva |
0x26C0000 | 303 Modificato configurazione I/O 1 |
0x26C0001 | 303 Modificato configurazione I/O 2 |
0x26C0002 | 303 Modificato configurazione I/O 3 |
0xE20000 | 311 Guasto dell'elettronica |
0x2C90000 | 330 Flash file non valido |
0x2CA0000 | 331 Aggiornamento firmware fallito |
0x2C70000 | 332 Scrittura HistoROM incorporata fallita |
0x950000 | 361 Modulo I/O 1 guasto |
0x950001 | 361 Modulo I/O 2 guasto |
0x950002 | 361 Modulo I/O 3 guasto |
0x2CB0000 | 372 Elettronica sensore (ISEM) difettosa |
0x2D10000 | 373 Elettronica sensore (ISEM) difettosa |
0x1070000 | 375 Comunicazione I/O1: Fallita |
0x1070001 | 375 Comunicazione I/O2: Fallita |
0x1070002 | 375 Comunicazione I/O3: Fallita |
0x1190000 | 376 Elettronica sensore (ISEM) difettosa |
0x2DE0000 | 377 Elettronica sensore (ISEM) difettosa |
0x16D0000 | 382 Conservazione dei dati |
0x16E0000 | 383 Contenuto della memoria elettronica |
0x2880000 | 387 HistoROM incorporata guasta |
0x8B0000 | 410 Trasferimento dati |
0x2040000 | 412 Download in corso |
0x40000 | 431 Regolazione 1 |
0x600000 | 437 Configurazione incompatibile |
0x6A0000 | 438 Dataset |
0x990000 | 441 Uscita in corrente 1 |
0x940000 | 453 Portata in stand-by |
0x900000 | 484 Modalità simulazione guasto |
0x930000 | 485 Simulazione della variabile misurata |
0xE0000 | 491 Simulazione corrente uscita 1 |
0x2840000 | 502 Attivaz./Disattivaz. modo legale fallita |
0x31C0000 | 511 Impostazioni ISEM fallite |
0x1200000 | 512 Elettronica sensore (ISEM) difettosa |
0x2760000 | 520 Configurazione HW I/O 1 errata |
0x2760001 | 520 Configurazione HW I/O 2 errata |
0x2760002 | 520 Configurazione HW I/O 3 errata |
0x15A0000 | 530 Pulizia elettrodi in corso |
0x16B0000 | 531 Regolazione tubo vuoto fallita |
0x14A0000 | 537 Configurazione |
0x2070000 | 540 Modalità legale fallita |
0x2820000 | 599 Logbook modalità legale pieno |
0xAD0000 | 803 Loop di corrente |
0xC30000 | 832 Temperatura elettronica troppo alta |
0xC10000 | 833 Temperatura elettronica troppo bassa |
0xC50000 | 834 Temperatura processo troppo alta |
0xC60000 | 835 Temperatura processo troppo bassa |
0x910000 | 842 Limite di processo |
0x310000 | 882 Ingresso segnale |
0x1540000 | 937 Simmetria sensore |
0x11B0000 | 938 Interferenza EMC |
0x1550000 | 961 Potenziale elettrodo fuori specifica |
0x920000 | 962 Tubo vuoto |
Variable Display Format:
Variable Edit Format:
Variable Unit:
Variable Max: N/A
Variable Min: N/A
Variable Read Command List
Command Number | Command ID | Command Name |
---|---|---|
173 | 4585 | read_index_parameter_173 |
Variable Write Command List
Command Number | Command ID | Command Name |
---|---|---|
178 | 4583 | write_index_parameter_178 |