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Variable Name: SPV_SimulateDiagCode_1
Variable ID: 0x43B8
Variable Label: test
Variable Help: Escoger un evento de diagnóstico para simular este evento
Variable Handling: R/W
Variable Class: Device
Variable Size: 4
Variable DataType: Enum
Variable Enum Value | Variable Enum Text |
---|---|
0x80EC | Desconectado |
0x1530000 | 043 Cortocircuito del sensor |
0xE70000 | 082 Almacenamiento de datos |
0xA00000 | 083 Contenido de la memoria |
0x38A0000 | 169 Fallo en medición de conductividad |
0x2D80000 | 170 Resistencia de bobina |
0xD50000 | 180 Sensor de temperatura defectuoso |
0x11C0000 | 181 Conexión de sensor |
0x14B0000 | 201 Fallo de instrumento |
0x670000 | 242 Software incompatible |
0x6B0000 | 252 Módulos incompatibles |
0x1490000 | 262 Conexión electrónica sensor defect. |
0x780000 | 270 Error electrónica principal |
0x7D0000 | 271 Error electrónica principal |
0x790000 | 272 Error electrónica principal |
0x980000 | 273 Error electrónica principal |
0x7A0000 | 275 Módulo E/S 1 defectuoso |
0x7A0001 | 275 Módulo E/S 2 defectuoso |
0x7A0002 | 275 Módulo E/S 3 defectuoso |
0x7B0000 | 276 Módulo E/S 1 averiado |
0x7B0001 | 276 Módulo E/S 2 averiado |
0x7B0002 | 276 Módulo E/S 3 averiado |
0xE10000 | 283 Contenido de la memoria |
0x1EE0000 | 302 Verificación del instrumento activa |
0x26C0000 | 303 E/S 1 configuration cambiada |
0x26C0001 | 303 E/S 2 configuration cambiada |
0x26C0002 | 303 E/S 3 configuration cambiada |
0xE20000 | 311 Error electrónica |
0x2C90000 | 330 Archivo inválido |
0x2CA0000 | 331 Actualización firmware fallida |
0x2C70000 | 332 Falló la escritura en el HistoROM |
0x950000 | 361 Módulo E/S 1 averiado |
0x950001 | 361 Módulo E/S 2 averiado |
0x950002 | 361 Módulo E/S 3 averiado |
0x2CB0000 | 372 Fallo en electr. del sensor (ISEM) |
0x2D10000 | 373 Fallo en electr. del sensor (ISEM) |
0x1070000 | 375 Fallo en comunicación I/O1 |
0x1070001 | 375 Fallo en comunicación I/O2 |
0x1070002 | 375 Fallo en comunicación I/O3 |
0x1190000 | 376 Fallo en electr. del sensor (ISEM) |
0x2DE0000 | 377 Fallo en electr. del sensor (ISEM) |
0x16D0000 | 382 Almacenamiento de datos |
0x16E0000 | 383 Contenido de la memoria |
0x2880000 | 387 Fallo datos HistoROM |
0x8B0000 | 410 Transf. datos |
0x2040000 | 412 Procesando descarga |
0x40000 | 431 Reajuste 1 |
0x600000 | 437 Config. incompatible |
0x6A0000 | 438 Conjunto de datos |
0x990000 | 441 Salida de corriente 1 |
0x940000 | 453 Supresión de valores medidos |
0x900000 | 484 Simulación Modo Fallo |
0x930000 | 485 Simulación variable de proceso |
0xE0000 | 491 Simulación de salida de corriente 1 |
0x2840000 | 502 Fallo activación/desactivación CT |
0x31C0000 | 511 Conf de ISEM defectuosa |
0x1200000 | 512 Fallo en electr. del sensor (ISEM) |
0x2760000 | 520 E/S 1 config de hardware no válido |
0x2760001 | 520 E/S 2 config de hardware no válido |
0x2760002 | 520 E/S 3 config de hardware no válido |
0x15A0000 | 530 Limpieza de electrodo en funcionamiento |
0x16B0000 | 531 Ajuste del tubo vacío fallido |
0x14A0000 | 537 Configuración |
0x2070000 | 540 Fallo en modo Custody Transfer |
0x2820000 | 599 Libro registro custody transf lleno |
0xAD0000 | 803 Corriente de lazo |
0xC30000 | 832 Temperatura de la electrónica muy alta |
0xC10000 | 833 Temperatura de la electrónica muy baja |
0xC50000 | 834 Temperatura de proceso muy alta |
0xC60000 | 835 Temperatura de proceso muy baja |
0x910000 | 842 Límite del proceso |
0x310000 | 882 Entrada Señal |
0x1540000 | 937 Simetría del sensor |
0x11B0000 | 938 Interferencia EMC |
0x1550000 | 961 Potencial electrodo fuera espec. |
0x920000 | 962 Tubería vacía |
Variable Display Format:
Variable Edit Format:
Variable Unit:
Variable Max: N/A
Variable Min: N/A
Variable Read Command List
Command Number | Command ID | Command Name |
---|---|---|
173 | 4585 | read_index_parameter_173 |
Variable Write Command List
Command Number | Command ID | Command Name |
---|---|---|
178 | 4583 | write_index_parameter_178 |